日前，第五届国际先进光学制造与检测学术会议（AOMATT2010）在大连世界博览广场举行。本次会议由中国光学学会和我所主办，美国SPIE协办。作为本次会议的承办单位，我所精心组织，确保了会议的圆满举行。此次会议规模空前，注册代表超过了八百人。
本次会议分为六个专题，分别为：大型望远镜技术、先进光学加工技术、光学测量测试技术与设备、微纳光学设备与系统的设计、制造和测试技术、探测成像设备的光电材料和换能技术、制造与测试的智能结构和材料。会议收到文摘1200余篇，收录全文700多篇。收录的文章经过整理后将在SPIE Proceeding上出版，并作为Ei收录的重要来源。
会上，美国亚利桑那大学光学学院的教授James C. Wyant做了题为“Recent Developments in Optical Testing Technology”的报告。他总结了光学学院的发展历程和成果，对国内各研究所具有借鉴意义，他们最新的动态干涉测量技术也是国内外业界研究的热点，受到广大参会者的广泛关注。
（大会主会场）
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