微纳器件在半导体、生物科学等领域中的迅速发展促进了人们对微纳结构的不断探索和改进。测量作为衡量器件性能的重要手段，对微纳结构的三维形貌检测也变得日趋重要。 

　　光电所科研人员提出一种基于白光显微干涉术的形貌恢复算法：利用二维傅立叶变换获取单帧干涉图像频域信息，提取基频频谱作逆傅里叶变换，最后获取条纹的时域调制度信息。通过压电陶瓷纵向高精度扫描，获取每个像素点的调制度分布，进而利用极值点得到单个像素点的高度信息，从而实现微纳结构的三维形貌重建。该方法优势在于能有效消除光源光强不稳定、外界环境干扰等不利因素带来的误差，较大程度上提升检测精度和系统稳定性，未来有望应用于在线检测。 

　　该项目得到国家科学自然基金和光电所研究生创新基金支持。 

　　单个像素点时域调制度分布曲线和三维形貌重建结果