所长信箱 | 联系我们 | English | 中国科学院
关键字:  
首页 机构概况 机构设置 科研成果 研究队伍 研究生教育 创新文化 科学传播 光电工程 国际交流
当前位置:首页 科研成果
专利库
专利名称: 检测计算全息基片面形和材料不均匀性误差的装置和方法
英文名称:
专利类别: 发明专利
申请号: CN103196389A
申请日期: 2013.04.02
授权日期:
专利号:
第一发明人: 冯婕;邓超;姚政鹏;邢廷文
其它发明人: 冯婕;邓超;姚政鹏;邢廷文
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况: 实质审查的生效
实施情况:
专利证书号:
专利摘要:
其它备注:
   

关闭窗口

中国科学院   版权所有 © 中国科学院光电技术研究所  单位邮编:610209
单位地址:中国四川省成都市双流350信箱 电子邮件:dangban@ioe.ac.cn