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论文编号: 2013-2017
作者: Fang, Liang(1); Pan, Li(1); Wang, Changtao(1); Luo, Xiangang(1)
刊物名称: Microelectronic Engineering
所属学科:
论文题目英文: Superlens imaging lithography for high aspect ratio sub-wavelength pattern employing trilayer resist process
年: 2013
卷: 110
期:
页: 35-39
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