所长信箱  |  联系我们  |  English  |  中国科学院
首 页 研究生教育 出版物 信息公开
当前位置:首页 > 科研成果 > 高科技产品
HRM-LAMBDA 高精度反射率测量仪
作者: 发布时间:2016-03-10 阅读次数:

设备简介:

  HRM-LAMBDA系列高反射率测量仪是精确测量平面镜或平凹镜超高反射率和透射光学元件光学损耗及剩余反射率的专业光学仪器。该测量仪基于光腔衰荡技术,以强度调制的连续半导体激光器或DPSS激光器为光源,具有测量精度高,易于使用,软件界面友好等优点。仪器采用的光反馈光腔衰荡技术已获得多项中、美两国专利授权。 

仪器特点:

  •  技术可靠,采用的光反馈光腔衰荡技术已获得多项美国和中国专利授权 
  •  装置简洁,无需光隔离器、压电传感器和光学开关等器件 
  •  操作简单,用户界面友好,光源调制方便 
  •  适用样品尺寸广泛,可用于大尺寸元件测量 
  •  功能多样,可用于精确测量透明光学元件的光学损耗和剩余反射率 

主要性能参数:

  •  波长范围:532nm633nm1064nm1315nm及其他波长(0.3um12um内) 
  •  检测范围:99%99.9999%(反射率测量),5ppm1%(光学损耗测量) 
  •  最高分辨率:0.1ppm      
  •  最高测量精度:小于2ppm 
  •  最高重复精度:小于1ppm 
  •  样品尺寸:直径10mm~直径300mm,可向更大尺寸延展     
  •  仪器外观:约1000mm×600mm×200mm,约100Kg   

使用环境要求:

  •  洁净度:1000级,或者优于1000  
  •  供电要求:AC220V/50Hz 
  •  温湿度:22±5℃,低于60% 

    

    

    

  联系人:韩艳玲              电话:86-28-85101036             

    

 
 
【打印本页】【关闭本页】
中国科学院   版权所有 © 中国科学院光电技术研究所  单位邮编:610209 备案号:蜀ICP备05022581号
单位地址:中国四川省成都市双流350信箱 电子邮件:dangban@ioe.ac.cn